Teil 1: Einführung und Überblick über statistische Methoden

Rauschen ist die Ursache für Qualitätsverluste bei Audiosignalen und für Fehler bei Präzisionsmessungen. Für Entwickler von Leiterplatten und elektrischen Systemen ist es hilfreich zu wissen, mit welcher Art Rauschen sie im ungünstigsten Fall bei ihren Schaltungsentwürfen rechnen müssen und welche Verfahren zur Rauschreduzierung oder welche Messmethoden existieren. Eigenrauschen in Operationsverstärkerschaltungen - Teil 1

Teil 2: Einführung in das Operationsverstärkerrauschen

Ziel der Rauschuntersuchung bei Operationsverstärkern ist, anhand von Informationen aus dem Datenblatt den Spitze-Spitze-Wert des Ausgangsrauschens eines OPV zu berechnen. Dazu werden Formeln verwendet, die für die einfachsten OPV-Schaltungen gelten. Bei komplizierteren Schaltungen verschaffen sie eine grobe Vorstellung von dem zu erwartenden Ausgangsrauschen. Eigenrauschen in Operationsverstärkerschaltungen - Teil 2

Teil 3: Widerstandsrauschen und Berechnungsbeispiele

Im vorangegangenen Teil der Artikelreihe haben wir ein Verfahren entwickelt, um die Spektrale Dichte des Rauschens, die wir aus einem Produktdatenblatt entnommen haben, in Rauschquellen in einem Operationsverstärkermodell umzurechnen. Der vorliegende Artikel erklärt, wie man mit diesem Modell das Gesamtrauschen am Ausgang einer einfachen Operationsverstärkerschaltung berechnen kann. Eigenrauschen in Operationsverstärkerschaltungen - Teil 3

Teil 4: Einführung in die SPICE-Rauschanalyse

Nachdem im dritten Teil dieser Artikelreihe eine einfache OPV-Schaltung mit manuellen Verfahren untersucht wurde, folgt nun die SPICE-Analyse. In Teil 4 zeigen wir, wie das Makromodell des Operationsverstärkers das Rauschen exakt simuliert. Eigenrauschen in Operationsverstärkerschaltungen - Teil 4

Teil 5: Einführung in die Rauschmessung

In den Teilen 3 und 4 wurde das Rauschen in Operationsverstärkerschaltungen erst manuell und dann mit Hilfe von TINA SPICE untersucht. Die Ergebnisse lagen dicht beieinander. Im Teil 5 werden Geräte zur Rauschmessung vorgestellt. Eigenrauschen in Operationsverstärkerschaltungen - Teil 5

Teil 6: Beispiele für die Rauschmessung

Im fünften Teil dieser Artikelserie wurden unterschiedliche Geräte zur Rauschmessung (Oszilloskope und Spektrumanalysatoren) vorgestellt. Teil 6 beschreibt anhand von Beispielen, wie die Geräte zur Messung an den in Teil 3 und Teil 4 beschriebenen Schaltungen verwendet werden. Eigenrauschen in Operationsverstärkerschaltungen - Teil 6

Teil 7: Rauschen im Verstärker

In diesem Kapitel werden die grundlegenden physikalischen Beziehungen erörtert, die das Eigenrauschen eines Operationsverstärkers bestimmen. Es wird erläutert, welche Kompromisse der IC-Entwickler zwischen Rauschen und anderen Parametern des Operationsverstärkers eingehen muss. Außerdem wird erklärt, wie anhand typischer Datenblattangaben Maximalwerte (bei Raumtemperatur und höherer Temperatur) abgeschätzt werden können. Eigenrauschen in Operationsverstärkerschaltungen - Teil 7