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5G: Leitfaden für Prüfung und Messung von Halbleitern

Fünf Herausforderungen beim Test von 5G-Breitbandgeräten

5G-Technologien mit hoher Bandbreite entwickeln sich rasant. Erfahren Sie in diesem Whitepaper mehr über die daraus resultierenden großen Herausforderungen beim Test von 5G-Breitband-ICs und wie Sie diese bewältigen.

Anbieter

 

Whitepaper Cover: National Instruments Corp

Die schnelle Entwicklung von 5G-Technologien mit hoher Bandbreite stellt die Prüfung und Messung der HF-Leistung neuer Geräte vor große Herausforderungen. Um mit den dynamischen Marktanforderungen Schritt zu halten, müssen sich Forscher und Ingenieure auf immer schnellere und kostengünstigere Testsysteme verlassen können.

Äußerst komplex sind dabei die Tests von 5G-Breitband-ICs in Sub-6-GHz- und mmWave-Geräten. Und einer der Schwierigsten davon ist der Over-the-Air-(OTA-)Test, sowohl im Charakterisierungslabor als auch in der Produktion.

Erfahren Sie im englischen Whitepaper mehr über

  • den Einsatz breiter OFDM-Signalformen für Downlink und Uplink bei 5G,
  • die Konfiguration von Breitbandprüfständen für eine umfassende Frequenzabdeckung,
  • die Vermeidung häufiger Fehlerquellen beim 5G-Beamforming,
  • die Verkürzung der Ausführungszeiten von OTA-Prüfverfahren beim Senden und Empfangen und
  • welche Alternativen zu RF-Kammern es für die Serienfertigung von mmWave-RF-ICs gibt.


Zusätzlich gibt das Whitepaper Empfehlungen zu Testverfahren und Tipps zur Vermeidung häufiger Fehler.

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Anbieter des Whitepapers

National Instruments Corp

11500 N Mopac Expwy BLGD B
78759-3504 Austin, TX
USA

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